3D封装突破:全球首款实现混合键合的三大芯片专利技术

应用材料与贝斯半导体联合推出全球首款集成式晶片对晶圆混合键合系统Kinex™,并同步发布Xtera™外延系统与PROVision™ 10电子束量测平台,全面赋能2纳米以下先进制程与AI芯片制造。

在2025年10月7日,全球半导体设备龙头——美国应用材料公司(Applied Materials)正式发布三大颠覆性新品,直指AI芯片制造的核心瓶颈:先进逻辑晶体管、高性能存储器,以及最关键的——3D先进封装技术。而其中最引人注目的,莫过于与荷兰贝斯半导体(BE Semiconductor Industries N.V.,简称Besi)联手打造的全球首款集成式晶片对晶圆混合键合系统——Kinex™键合系统。这可不是普通的技术升级,而是真正意义上为下一代AI芯片“打通任督二脉”的关键一步!

先说说背景:为什么现在整个半导体行业都在疯狂押注3D封装?原因很简单:摩尔定律快走到尽头了。

过去几十年,芯片性能提升主要靠晶体管越做越小,但现在2纳米、1.4纳米已经逼近物理极限。于是,聪明的工程师们开始“向上发展”——把多个小芯片(Chiplet)像搭积木一样堆叠起来,组成一个高性能、低功耗的“系统级封装”(SiP)。比如英伟达的顶级GPU、AMD的MI300系列AI加速器,背后都依赖这种先进封装技术。

而实现这种堆叠的核心工艺,就是“混合键合”(Hybrid Bonding)。

混合键合到底有多牛?

  • 传统封装用的是微凸块(Microbump),间距通常在几十微米;
  • 而混合键合直接让铜对铜面对面键合,互连间距可以缩小到10微米以下,甚至逼近1微米!

这意味着数据传输速度更快、功耗更低、芯片面积更小,成本还能优化。但问题来了——这种技术在实验室里很美好,一旦放到量产线上,就面临巨大挑战:环境洁净度、对准精度、工艺步骤衔接、良率控制……随便一个环节出问题,整片晶圆就废了。

正是在这个节骨眼上,应用材料和贝斯半导体强强联手,推出了Kinex™键合系统。这可不是简单拼凑两台设备,而是真正把“前端晶圆处理”和“后端高精度贴装”融为一体。

要知道,应用材料是全球前道工艺设备的霸主,尤其在薄膜沉积、刻蚀、离子注入等领域无人能敌;而贝斯半导体则是后道封装设备的隐形冠军,专精于晶片放置、互连与高速键合,精度达到亚微米级别。两家巨头把各自最核心的技术注入Kinex™,打造出业界首个“全流程集成式”混合键合平台。

那Kinex™到底强在哪里?
第一,它实现了“晶片级全程追踪”。在复杂的多芯片封装中,每一片小芯片的来源、工艺历史、电性参数都必须精准记录,否则后期调试和良率分析根本无从下手。Kinex™通过内置的智能追踪系统,确保每颗晶片从进料到键合完成都有完整数字身份,大幅提升多芯片系统的可管理性。

第二,它能在超洁净、高度受控的环境中实现超高精度键合。混合键合要求铜表面绝对平整、无氧化、无污染,任何微小颗粒或温湿度波动都会导致键合失败。Kinex™把清洗、活化、对准、键合等所有关键步骤全部集成在一个封闭腔体内,避免晶片在不同设备间转移时暴露在空气中,从而支持更小的互连间距——这对HBM4、GDDR7等下一代高带宽内存至关重要。

第三,它精准控制“工艺步骤之间的等待时间”(Queue Time)。你可能不知道,在混合键合中,晶片清洗后必须在极短时间内完成键合,否则铜表面会迅速氧化,导致接触电阻飙升。传统非集成式方案中,晶片要在不同机台间搬运,等待时间不可控。而Kinex™把所有流程串在一起,实现“清洗完立刻键合”,大幅提升键合一致性和良率。

第四,它内置了“在线量测系统”,能实时监控对准精度和偏移。传统做法是键合完再抽检,发现问题已经晚了。Kinex™则在键合过程中就进行高速叠对量测,一旦发现偏移,系统自动校正,确保每一层堆叠都精准无误。这对3D NAND、3D DRAM这类需要堆叠上百层的芯片来说,简直是救命稻草!

目前,Kinex™系统已经被多家全球顶尖的逻辑芯片厂、存储器巨头以及OSAT(外包半导体封装测试)厂商采用,进入量产验证阶段。这意味着,我们很快就能在下一代AI服务器、智能手机、自动驾驶芯片中看到它的身影。

但应用材料的野心不止于此!同一天,他们还发布了另外两款“王炸级”设备:Centura™ Xtera™外延系统和PROVision™ 10电子束量测系统。

先看Xtera™
随着晶体管进入2纳米及以下节点,传统的FinFET结构已经撑不住了,行业全面转向“环绕栅极”(Gate-All-Around, GAA)晶体管。GAA的源极和漏极需要在极深、极窄的沟槽中沉积外延材料,传统外延工艺容易产生空洞或生长不均,严重影响性能和可靠性。Xtera™通过独创的“低容积反应腔”设计,集成预清洗和刻蚀功能,并采用“边沉积边刻蚀”的动态调控技术,确保沟槽底部和侧壁均匀生长,实现零空洞、高一致性。更惊人的是,它还能节省50%的气体用量,既环保又降本!目前,台积电、三星、英特尔等头部晶圆厂都已导入Xtera™,为2纳米GAA量产铺路。

再说PROVision™ 10
3D芯片越做越复杂,传统光学量测已经“看不透”了。PROVision™ 10是全球首款采用“冷场发射”(Cold Field Emission, CFE)技术的电子束量测系统,分辨率提升50%,成像速度提升10倍!它能穿透多层堆叠结构,直接在器件上测量关键尺寸(CD)和层间对准误差,甚至能检测GAA晶体管中外延层的微小空洞。对于EUV光刻的套刻控制、纳米片晶体管的形貌监控、HBM与逻辑芯片的异质集成,PROVision™ 10都是不可或缺的“火眼金睛”。

说到这里,不得不提一下背后的掌舵人——普拉布·拉贾博士(Dr. Prabu Raja)。作为应用材料半导体产品集团总裁,他不仅是材料工程领域的权威,更是推动“协同创新”模式的关键人物。他强调:“芯片越来越复杂,我们必须更早、更深地与客户合作,共同开发解决方案。”这种从“卖设备”转向“共创新技术”的战略,正是应用材料持续领跑的核心逻辑。

而贝斯半导体作为欧洲半导体设备的代表,多年来深耕先进封装,其高速、高精度的晶片贴装技术早已被日月光、矽品、长电科技等OSAT巨头广泛采用。此次与应用材料联手,标志着前道与后道工艺的界限正在模糊,未来芯片制造将更强调“端到端整合”。

总结一下:AI的爆发不是靠单点技术,而是整个制造生态的协同进化:
Kinex™解决的是“怎么把芯片堆得又快又稳”,Xtera™解决的是“晶体管怎么做得又小又强”,PROVision™ 10解决的是“怎么看得清、测得准”。
三者合力,构建起面向2030年的AI芯片制造基础设施。

可以预见,在未来几年,搭载这些新技术的芯片将驱动更大规模的AI模型、更智能的终端设备、更高效的云计算中心。而中国半导体产业若想在先进封装、GAA晶体管等领域不掉队,也必须加速布局类似的技术生态。

所以,别再只盯着英伟达的股价了,真正的战场,其实在这些你看不见的制造设备里。谁掌握了材料、工艺与量测的底层创新,谁就握住了AI时代的“芯片命脉”。